表面粗糙測(cè)量?jī)x輪廓形狀測(cè)定機(jī)，SEF680輪廓形狀測(cè)定機(jī)，KOSAKALAB小坂研究所
表面粗糙測(cè)量?jī)x輪廓形狀測(cè)定機(jī)，SEF680輪廓形狀測(cè)定機(jī)，KOSAKALAB小坂研究所
表面粗糙測(cè)量?jī)x輪廓形狀測(cè)定機(jī)，SEF680輪廓形狀測(cè)定機(jī)，KOSAKALAB小坂研究所


可搬性/設(shè)置自由度が高い測(cè)定機(jī)で、リアルタイムでプロフィールを表示?記録出來(lái)ます。
表面粗さ測(cè)定 多様なパラメータに対応し、複數(shù)規(guī)格を同時(shí)解析。 輪郭形狀測(cè)定 測(cè)定サンプリング數(shù)が64,000點(diǎn)と多く、高分解能で長(zhǎng)距離の測(cè)定が可能です。
表面粗さ 測(cè)定範(fàn)囲/分解能 Z：800µm/0.08nm 送り速さ 0.05～2mm/s 觸針 R2µm 0.75mN以下 輪郭形狀 測(cè)定精度 Z：±（2.5+0.5×ｌ H ｌ）µm以下 H：変位(mm) X：±（2.5+0.02L)µm以下 L：測(cè)定長(zhǎng)さ（mm） 測(cè)定範(fàn)囲 Z：30mm X：510mm 觸針 R25µm 10～30mN
表面粗度測(cè)定機(jī)：
SE300,SE500,SE600,SE610,SE600K,SE600K31,
SE700,SE4000,
表面粗度,輪廓形狀測(cè)定機(jī)：
SEF580-G18,SEF580--G18D,SEF580-M50,SEF580-M58,SEF580-M58D,SEF680,SEF680K,
細(xì)微形狀測(cè)定機(jī)：
ET200,ET4000,ET10000,
表面形狀,粗度測(cè)定機(jī)：
DSF600,DSF900,
輪廓形狀測(cè)定機(jī)：.
EF550-G18,EF550-G18D,EF550-M50,EF550-M58,EF550-M58D,EF650,EF650D,REF100,
真圓度,圓頭形狀測(cè)定機(jī)：
EC600,EC1550H,EC1650H,EC1850H,EC2150,EC2500H,EC2700H,EC2500HF,EC2700HF,EC1850P,
EC3300P,EC3600A,EC3600B,EC3600C,EC4100H,
EC5100H,EC6100,
真圓度標(biāo)準(zhǔn)片：SS-R,
倍率標(biāo)準(zhǔn)片：SS-C,
檢出器：
PU-UG4SC,PU-UG4S,PU-UG5C,PU-UG5S,
對(duì)芯治具：MRC12,
回轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)付對(duì)芯治具：MRC-20,
防振臺(tái)付架臺(tái)：SMB-7，
防振臺(tái)：ECV40
空氣干燥機(jī)：ECA-30A,
粗度,輪廓形狀測(cè)定機(jī)用附件：PU-OS400,
薄膜試片臺(tái)：BA-41,
圓周租度測(cè)定臺(tái)：SRA-21，
校正用標(biāo)準(zhǔn)片：
SS-N,SS-A,SS-G21,SS-F,SS-T,SS-I,SS-E,SS-S,