膜厚計(jì)SAMAC-F,SANKO山高,膜厚計(jì)SAMAC-F,膜厚計(jì)SAMAC-F,SANKO山高,膜厚計(jì)SAMAC-F,
測(cè)定方式 電磁式?過電流式両用(素地自動(dòng)判別) 測(cè)定範(fàn)囲 鉄素地:0~2.5mm
非鉄金屬素地:0~2.0mm 表示分解能 1µm:0~999µm(鉄?非鉄共通)
切換により
0.1µm:0~400µm(鉄?非鉄共通)
0.5µm:400~500µm(鉄?非鉄共通)
0.01mm:1.00~2.5mm(鉄素地)
0.01mm:1.00~2.0mm(非鉄素地)
測(cè)定精度
(平滑面に対して
垂直に測(cè)定) 0~100µm:±1µm(鉄?非鉄共通)
または指示値の±2%以內(nèi)
101µm~2.5mm:±2%以內(nèi)(鉄素地)
101µm~2.0mm:±2%以內(nèi)(非鉄素地) メモリ 検量線(FN:1本、Pro:10本)
測(cè)定値20,000點(diǎn)(Pro) 統(tǒng)計(jì)演算機(jī)能 LCD上で統(tǒng)計(jì)データを表示(Pro) データ転送 USB出力(Pro) プローブ
(本體內(nèi)蔵) 1點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付、φ13 電源 単4乾電池(1.5V×2)、オートパワーオフ 使用溫度 0~40℃(結(jié)露しないこと) 寸法重量 63(W)×84(H)×30(D)mm、約125g 付屬品 標(biāo)準(zhǔn)厚板、テスト用ゼロ板(鉄用、非鉄用)、収納ケース
Pro:USBケーブル、USBドライバ(CD)
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經(jīng)營范圍:進(jìn)口光學(xué)設(shè)備、電子計(jì)測(cè)儀器、科學(xué)儀器、機(jī)械加工設(shè)備、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、PC周邊用品、作業(yè)
工具用品、物流保管用品、化學(xué)用品、FA自動(dòng)化。
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